礦物晶粒結構磨制晶粒結構分析圖像顯微鏡
晶粒內(nèi)部結構研究方法
由于礦物集合體中顆粒排列得非常緊密，或因在磨制光片時，晶
粒間的界限常被非晶質(zhì)薄膜所復蓋、填塞，故所見的礦物往往是相連
成一片，時常掩蓋了礦石內(nèi)部(包括晶粒內(nèi)部)結構。因此，在反射光
下常很難直接觀察到，所以，通常采用下列方法顯示礦物晶粒內(nèi)部結
構，以利觀察。
1．偏光法
(正交或不完全正交)對于非均質(zhì)性的金屬礦物，可在礦相顯微鏡
下，以垂直入射正交(或不完全正交)偏光法，觀察礦物晶粒內(nèi)部結構
。如輝銻礦，毒砂，銅藍、磁黃鐵礦、紅砷鎳礦等非均質(zhì)性礦物，用
此法觀察，可得到較好的效果。但該法通常只能顯示礦物結晶顆粒輪
廓界限及其內(nèi)部的雙晶、晶帶等，而不能顯示裂理、解理等o
2．結構浸蝕法
對于那些均質(zhì)性的或弱非均質(zhì)性的金屬礦物，可利用結構化學浸蝕
法來顯示其內(nèi)部結構。結構浸蝕法和浸蝕鑒定的操作與原理相似，即
在光片上用一定濃度的化學試劑加以浸蝕，其浸蝕的時間、化學試劑
的種類和濃度，以能最快和最清晰地顯示其內(nèi)部結構為宜。至于浸蝕
的面積，可根據(jù)需要而定，通常比浸蝕鑒定的面積要大。浸蝕的時間
，一般為幾至幾十秒鐘不等，甚至可達幾十分鐘。由于光面上的礦物
晶粒因其各自方向和截面不同，與試劑反應的速度和程度也不相等，
故各晶粒經(jīng)浸蝕后顯示出明暗和深淺程度不同的浸蝕面。因而礦物晶
粒界限和裂理、解理、環(huán)帶、雙晶等內(nèi)部結構，在礦相顯微鏡下均可
被觀察到。其常用的方法如下：
(1)液體試劑浸蝕法(液法) 用滴管吸取試劑滴在光面上進行局部
浸蝕，經(jīng)一定時間后，用濾紙吸干，置于顯微鏡下觀察。若有沉淀物
產(chǎn)生時，可用清水沖洗，揩干后再進行觀察。
(2)氣體試劑浸蝕法(氣法) 把礦石光片的磨光面置于盛有化學試
劑的玻璃瓶(皿)，n上方，但不接觸瓶(皿)口，利用試劑的蒸汽來浸蝕
礦石磨光面，經(jīng)一定時間后，再置于顯微鏡下觀察之。
